金屬高溫導熱系數(shù)測試儀   型號：DRJ-I
該儀器采用試樣直接通電縱向熱流法，于80°～900℃溫度范圍內(nèi)測量金屬無相變溫度下的導熱系數(shù)，由計算機自動完成測試。滿足了材料檢測研究部門對金屬材料導熱系數(shù)的測試要求。儀器參考標準：GB/T3651-2008《金屬高溫導熱系數(shù)測量方法》。 
金屬高溫導熱系數(shù)測試儀  主要技術指標 
1、 導熱系數(shù)測試范圍：5～400W/m·K； 
2、 準確度：優(yōu)于5%； 
3、 對實驗溫度實現(xiàn)可控狀態(tài)下的測試，電爐高溫度1000℃； 
4、 電源：220V，50HZ； 
5、 連接上位機，實現(xiàn)計算機自動測試、實現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出； 
6、 試樣尺寸要求：棒狀試樣：Ф3-5×220（mm） 
絲狀試樣：Ф1-3×20-45（mm）

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測試儀 產(chǎn)品型號：SZT-1

數(shù)字式四探針測試儀型號：SZT-1

SZT-1型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導體材料徑向和軸向電阻率，測量片狀半導體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特制的四探針測試夾，還可以對金屬導體的低中值電阻進行測量。此外，探針經(jīng)過特殊加工后，還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛于半導體材料、器件廠、高等院?；瘜W物理系、科研單位，對半導體材料的電阻性能測試。 
本儀器測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準確，游移率小，使用壽命長。 
SZT-1型數(shù)字式四探針測試儀技術參數(shù)： 
1． 測量范圍： 
電阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm 
方塊電阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□ 
電阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω 
導電類型鑒別：電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm 
2． 可測半導體材料尺寸 
直徑：φ15~100 mm 
長度：≤400mm 
3． 測量方法： 
軸向、斷面均可 
4． 顯示方式：31/2,數(shù)顯,性、過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示。 
5． 恒流源： 
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續(xù)可調(diào)。 
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA 
（3） 誤差：±0.5%讀數(shù)±2個字 
6.四探針測試探頭 
(1) 探針間距:1mm 
(2) 材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.0% 
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W 

 

產(chǎn)品名稱：便攜式聲波測厚儀 聲波測厚儀  產(chǎn)品型號：TT340 便攜式聲波測厚儀 聲波測厚儀  型號：TT340  1、具有鑄件測試功能；   2、設有耦合提示、低電壓提示；  3、關機方式：手動和自動關機等功能（無操作三分鐘后）；  4、小值捕捉：可選擇顯示當前厚度值或小厚度值  5、數(shù)據(jù)存儲：可存儲500個測量值和五個聲速值  6、聲速可調(diào)：可利用已知厚度試塊測量聲速；  7、增益設置：具有高低增益設置功能  8、公英制轉換：可選擇mm或inch  9、背光顯示功能，適合在光線不好的環(huán)境中進行測量。  性能 TT340  測量范圍 1.2—300mm（鋼，由探頭決定）   5.0~40mm（鑄鐵）   顯示分辨率 0.1mm   聲速范圍 1000—9999m/s  工件表面溫度 -10~+60  顯示 四位大屏幕背光數(shù)字顯示，可調(diào)對比度   測量精度 +_(1%H+0.1)mm, H為實際厚度值   管材測量下限 ￠20mmX3.0mm(5P￠10探頭,鋼材)  操作時間 可連續(xù)操作100小時（2個AA型堿性電池，1.5V/個，無背光時）  手提箱1個  主機1臺  主機保護套1套  探頭5P￠10/90探頭1支；TSTU32鑄鐵探頭1支  電池AA型堿性電池2節(jié)  耦合劑1瓶  隨機文件1套